Thiết bị phát hiện quang điện

Thiết bị kiểm tra quang điện chủ yếu được sử dụng trong các ngành: kiểm tra quang học sản phẩm OLED của ngành màn hình bán dẫn, kiểm tra toàn diện bằng phương pháp quang học cho các ngành hàng thông thường 3C, kiểm tra quang học cho khoang lái thông minh năng lượng mới, v.v.

Dòng sản phẩm quang điện:

Thử nghiệm quang học sản phẩm OLED

• Thử nghiệm IVL thiết bị OLED

• Thử nghiệm tuổi thọ thiết bị OLED

• Thử nghiệm quang học mô-đun OLED

• Thử nghiệm quang học bảng điều khiển OLED

• Thử nghiệm quang học nhiệt độ cao-thấp cho thiết bị màn hình OLED kích thước nhỏ và vừa

  • Phép đo quang học màn hình micro OLED

Thiết bị dây chuyền ngành hiển thị bán dẫn

• Thiết bị kiểm tra dây chuyền sản xuất

• Thiết bị sản xuất dây chuyền

Thử nghiệm quang học khoang lái thông minh năng lượng mới

• Thử nghiệm quang học nhiệt độ cao thấp cho màn hình trên xe

• Thử nghiệm ánh sáng môi trường

  • Thử nghiệm quang học HUD

• Thử nghiệm quang học ký tự cabin

Hệ thống thử nghiệm quang học hoàn toàn

  • Kiểm tra quang học toàn diện cho thiết bị đeo, điện thoại di động và máy tính bảng

  • Máy tính xách tay, màn hình để bàn và thử nghiệm quang học mô-đun máy tính toàn bộ

• Kiểm tra quang học toàn bộ máy và mô-đun cho TV và màn hình cỡ trung lớn

• Kiểm tra quang học của mô-đun đèn nền và màng quang học

• Thử nghiệm quang học LED LightBar

• Thử nghiệm độ truyền qua khi xoay tấm phân cực

Thử nghiệm quang học sản phẩm OLED

Thử nghiệm IVL thiết bị OLED

Dòng LD-HG (có thể kết hợp với môi trường nhiệt độ cao thấp)

Sản phẩm được kiểm tra: Tấm silicon thiết bị vật liệu OLED

Ứng dụng trong trường hợp: Chủ yếu được sử dụng trong phòng thí nghiệm nghiên cứu và phát triển

Thiết bị quang học: Có thể kết hợp với máy đo độ sáng bức xạ phân quang dòng Topcon SR, dòng Konica Minolta CS. Phần mềm có thể tương thích với các thiết bị dòng PR của PhotoResearch.

Đặc điểm thiết bị:

Hệ thống này chủ yếu nhằm đáp ứng nhu cầu thử nghiệm các đặc tính IVL của thiết bị OLED tại các nhà máy sản xuất vật liệu và màn hình OLED. Hệ thống có thể được trang bị các mô-đun khách hàng khác nhau như kiểm tra góc nhìn, kiểm tra điều khiển nhiệt độ cao thấp, và kiểm tra hiệu suất lượng tử bên ngoài, giúp đáp ứng các yêu cầu thử nghiệm cá nhân hóa của khách hàng.

Cấu hình linh hoạt vị trí làm việc:  

Số lượng vị trí làm việc và chức năng của từng vị trí đều có thể được tùy chỉnh theo nhu cầu khách hàng, như hình bên phải là giải pháp hệ thống gồm 6 vị trí làm việc ở nhiệt độ thường, 1 vị trí quan sát và 1 vị trí chịu nhiệt độ cao/thấp.

Dụng cụ gia công có độ bền cao và khả năng tùy chỉnh linh hoạt:  

Khuôn mẫu được thiết kế theo quy cách của khách hàng, sử dụng đầu dò chất lượng cao để đảm bảo tính ổn định khi thử nghiệm; đối với vị trí góc nhìn, chúng tôi áp dụng thiết kế đặc biệt, đáp ứng nhu cầu thử nghiệm góc nhìn rộng.

Tính năng phần mềm hoàn thiện:  

Giao diện phần mềm đơn giản, dễ sử dụng, chức năng hoàn chỉnh, đáp ứng nhiều nhu cầu thử nghiệm khác nhau.

Nhận diện căn chỉnh tự động tại tâm khu vực phát sáng nhiều vị trí:  

Được trang bị CCD của Hikvision, thiết bị tự động nhận diện và định vị vùng phát sáng, đồng thời đảm bảo điểm đo được căn chỉnh chính xác vào tâm vùng phát sáng trong quá trình kiểm tra góc nhìn, từ đó duy trì độ chính xác của bài kiểm tra.

Thiết lập phần mềm thử nghiệm IVL

Hỗ trợ 3 chế độ đầu ra gồm điện áp, dòng điện và mật độ dòng điện;

Hỗ trợ 3 phương thức đầu ra: tiêu chuẩn, nhiều đoạn và tùy chỉnh;

Hỗ trợ thiết lập ngưỡng đo ban đầu, nếu giá trị dưới ngưỡng đã đặt sẽ không đo độ sáng, khi đạt đến ngưỡng đã thiết lập thì bắt đầu đo độ sáng, giúp tiết kiệm thời gian thử nghiệm;

Hỗ trợ thiết lập phổ quang ở các mức điện áp và dòng điện cụ thể. Các thông số của máy hỗ trợ có thể được lưu lại và gọi lại trong lần đo tiếp theo.

Báo cáo thử nghiệm:

Các thông số kết quả thử nghiệm bao gồm: độ sáng, điện áp, dòng điện, mật độ dòng điện, hiệu suất dòng điện, hiệu suất phát quang, hiệu suất lượng tử bên ngoài, nhiệt độ màu, chỉ số hoàn màu, phổ phát quang, chiều rộng nửa đỉnh v.v.

Báo cáo biểu đồ thử nghiệm bao gồm: V-J, J-L, V-J(Log), J-L(Log), J-C.E, J-P.E, CIE1931, CIE 1976, Spectra v.v.

Thử nghiệm tuổi thọ mô-đun OLED

Dòng LD-LT

Sản phẩm được thử nghiệm: Mô-đun hiển thị micro OLED

Ứng dụng: Chủ yếu được sử dụng trong phòng nghiên cứu/phòng thí nghiệm chất lượng

Thiết bị quang học: Có thể kết hợp với máy đo độ sáng bức xạ phân quang dòng Topcon SR, dòng Konica Minolta CS. Phần mềm có thể tương thích với các thiết bị dòng PR của PhotoResearch.

Máy phát tín hiệu: Có thể kết hợp với PG điều khiển bằng chương trình, chẳng hạn như nhiều mẫu mã từ các thương hiệu như JC, HYC, Chroma v.v.

Đặc điểm thiết bị: Hệ thống này lắp đặt máy đo độ sáng bức xạ phân quang trên trục chuyển động X/Y/Z, lần lượt kiểm tra độ sáng và phổ màu của từng sản phẩm dưới các khung hình khác nhau, từ đó thu được đường cong biểu diễn sự thay đổi của độ sáng và phổ màu theo thời gian trong quá trình suy giảm tuổi thọ sản phẩm. Sử dụng camera CCD công nghiệp Hikvision để định vị tự động, giúp đơn giản hóa quy trình thử nghiệm đồng thời đảm bảo độ chính xác cao về vị trí kiểm tra; Các vị trí làm việc có thể cấu hình linh hoạt, cho phép tùy chỉnh cài đặt thử nghiệm riêng biệt cho từng vị trí; Có thể tùy chọn lắp đặt buồng nhiệt độ cao để tăng cường môi trường thử nghiệm ở nhiệt độ cao, với dải điều khiển nhiệt độ từ nhiệt độ phòng đến -100℃, đáp ứng nhu cầu thử nghiệm trong môi trường nhiệt độ cao.

Thành phần hệ thống: Máy quang học tự động ba trục, máy đo độ sáng bức xạ phân quang, bộ phát tín hiệu mô-đun, camera định vị tự động, phần mềm đo tuổi thọ mô-đun, máy tính điều khiển công nghiệp, tủ nhiệt độ cao

Giao diện lựa chọn vị trí làm việc

Thử nghiệm quang học nhiệt độ cao và thấp cho màn hình OLED kích thước nhỏ

Dòng LD-HC  

Sản phẩm được kiểm tra: Mô-đun OLED hoặc thiết bị hoàn chỉnh, phù hợp cho phép đo quang học ở nhiệt độ cao/thấp/nhiệt độ thường đối với sản phẩm từ 3 đến 20 inch

Ứng dụng: Chủ yếu được sử dụng trong phòng nghiên cứu/phòng thí nghiệm chất lượng

Thiết bị quang học: Có thể kết hợp với máy đo độ sáng bức xạ phân quang dòng Topcon SR, dòng Konica Minolta CS. Phần mềm có thể tương thích với các thiết bị dòng PR của PhotoResearch.

Máy phát tín hiệu: Có thể kết hợp với PG lập trình được, chẳng hạn như các dòng sản phẩm từ nhiều thương hiệu và model như JC, HYC, Chroma v.v.

Đặc điểm thiết bị: Sản phẩm được đặt ngang, bao gồm ba trục tuyến tính X/Y/Z và hai trục xoay θ/φ, với độ phân giải chính xác di chuyển 0,01mm và 0,01°, mỗi trục đều được trang bị công tắc giới hạn an toàn.

Hệ thống kiểm soát nhiệt độ cao thấp: Sử dụng cơ chế thử nghiệm bằng máy đo dòng nhiệt, có tốc độ làm lạnh nhanh và hiệu suất cao. Hệ thống làm lạnh/giữ nhiệt thông qua phương pháp thổi khí, đưa trực tiếp không khí lạnh/nóng vào bên trong khoang cách nhiệt của thiết bị. Khoang cách nhiệt hỗ trợ đặt và thử nghiệm các sản phẩm có kích thước từ 1 đến 27 inch. Bên trong tủ được trang bị cảm biến nhiệt độ, giúp theo dõi实时 nhiệt độ bên trong và phản hồi để điều chỉnh ngay lập tức. Dải nhiệt độ: -40℃ ~ 100℃, độ chính xác: ±1℃; đồng thời duy trì luồng khí khô với áp suất dương, nhờ đó ngăn chặn hơi nước xuất hiện trong tủ. Thời gian giảm nhiệt từ nhiệt độ phòng xuống -40℃ ≤ 45 phút, và thời gian tăng nhiệt từ nhiệt độ phòng lên 100℃ ≤ 45 phút.

Thử nghiệm quang học thiết bị điện tử tiêu dùng

Kiểm tra quang học của mô-đun quang học toàn phần

Dòng LD-HR

Sản phẩm được kiểm tra: Mô-đun LCM hoặc thiết bị hoàn chỉnh, phù hợp cho phép đo quang học của sản phẩm từ 3 đến 27 inch

Ứng dụng: Chủ yếu được sử dụng trong phòng nghiên cứu/phòng thí nghiệm chất lượng

Thiết bị quang học: Có thể kết hợp với máy đo độ sáng phân quang Topcon dòng SR, Konica Minolta dòng CS. Phần mềm có thể tương thích với các thiết bị dòng PR của PhotoResearch.

Bộ phát tín hiệu: Có thể kết hợp với PG điều khiển chương trình, chẳng hạn như các thương hiệu và model phổ biến như JC, HYC, Chroma v.v.

Đặc điểm thiết bị: Sản phẩm được đặt ngang, bao gồm ba trục tuyến tính X/Y/Z và hai trục xoay θ/φ, với độ phân giải chính xác di chuyển 0,01mm và 0,01°, mỗi trục đều được trang bị công tắc giới hạn an toàn.

Tiêu chuẩn quang học hiển thị bán dẫn

Thử nghiệm quang học khoang lái thông minh năng lượng mới

Kiểm tra quang học nhiệt độ thường của màn hình trên xe

Dòng LD-VR

Sản phẩm được kiểm tra: sản phẩm điều khiển trung tâm khoang chứa thông minh trên ô tô, v.v. Phù hợp để đo quang học tự động trên màn hình thông thường trên xe, màn hình cong, màn hình có hình dạng đặc biệt, màn hình kép và màn hình liên kết nhiều tấm.

Ứng dụng trong trường hợp: Chủ yếu được sử dụng trong phòng thí nghiệm nghiên cứu và phát triển

Thiết bị quang học: Kết hợp với máy đo độ sáng phân quang Topcon dòng SR, Konica Minolta dòng CS. Có thể kết hợp với thiết bị đo bề mặt trên máy để kiểm tra các hạng mục như Blackmura, hiện tượng bóng mờ bậc ba, v.v.

Đặc điểm thiết bị: Sản phẩm được đặt thẳng đứng, chuyển động tuyến tính theo trục XYZ, độ phân giải và độ lặp lại ≤0,02mm; Trục Φ: 0°~360°, trục θ: ±90°, độ chính xác Φ: ≤0,1°, θ: ≤0,1°; Từng trục có thể đáp ứng cả hai phương thức xoay thủ công và tự động, tốc độ vận hành có thể điều chỉnh.

Thành phần hệ thống:

1. Máy đo quang học năm trục; 2. Máy đo độ sáng bức xạ quang phổ; 3. Thiết bị đo thời gian phản hồi thang xám; 4. Phần mềm đo quang học; 5. Bộ phát tín hiệu; 6. Máy tính công nghiệp; 7. Bóng tích phân (ACR, độ phản xạ)

Tiêu chuẩn đo lường tham chiếu theo tiêu chuẩn OEM ô tô của Đức

1. Thời gian hoạt động của máy nhiệt; 2. Độ sáng, độ bão hòa màu và độ đồng đều; 3. Độ bão hòa màu RGB và tỷ lệ phủ gam màu; 4. Tỷ lệ tương phản đen-trắng; 5. Góc nhìn ngang/dọc và góc nhìn toàn diện; 6. Cross Talk; 7. Thời gian đáp ứng thang xám/Ficker; 8. Hệ số phản xạ SCI/SCE v.v.

Thiết bị phát hiện quang điện-1-20250907.pdf